產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
IM7581阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時(shí)進(jìn)行測量
IM7580A阻抗分析儀產(chǎn)品概述 較快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測量，節(jié)省空間的半個(gè)機(jī)架大小 ● 測量頻率1MHz~300MHz ● 測量時(shí)間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時(shí)進(jìn)行測量
IM3590化學(xué)阻抗分析儀產(chǎn)品概述 用于測量電氣化學(xué)零件和材料/電池/EDLC（電氣雙層電容） ● 適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源 ● 1臺機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查 ● 可測量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 ● 較快2ms的高速測量，實(shí)現(xiàn)掃描測量的高速化 ● 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應(yīng)
IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品概述 1臺儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 ● 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 ● 分析儀模式下可
TEGAM253便攜式阻抗分析儀在元件測試或制造人員對電感、電容、電阻的手動(dòng)測試中表現(xiàn)優(yōu)良。TEGAM 253 LCR表和TEGAM 252 LCR表具有相同的性能，除了增加了用來測試元件更大動(dòng)態(tài)參數(shù)范圍的自動(dòng)量程功能。TEGAM 253 LCR表電容和電感值的大量程擴(kuò)展到 2,000 µF 和 20 S。
